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S5700 Silicon

小體積、高性能

干硅的控制是離型膜質量的關鍵指標之一

需要專業的測試設備才能測試涂布量,X射線熒光光譜儀(XRF)

硅油涂布量直接影響到離型(剝離)性能。較高的涂布量,能夠密實地將原紙覆蓋,保證硅油均勻分布。而較低的硅油涂布量,則容易出現

漏涂等現象,導致剝離不良。

硅油涂布量:離型劑涂布在材料上的Si含量單位是g/m2。

特點
技術規格

干硅的控制是離型膜質量的關鍵指標之一


離型膜,硅油紙,離型紙,防粘紙,主要起到隔離帶有黏性的物體的作用,在使用時一般·需要被剝離、扔棄,現在應用得較廣的主要是

膠帶或帶膠制品的載體,在食品、醫療衛生行業也有應用。


硅油涂布量直接影響到離型(剝離)性能。較高的涂布量,能夠密實地將原紙覆蓋,保證硅油均勻分布。而較低的硅油涂布量,則容易出現

漏涂等現象,導致剝離不良。



S5700 Silicon

分析元素

Si

X射線管

≧30000小時

探測器

電致冷SDD探測器 125±5eV

測試時間

30s

攝像定位

1200萬

重量

38kg  

尺寸

450mm ×   400mm × 360mm

集成工業

計算機

Intel(R)   cpu i5,內存8G 操作系統 Window10

顯示

顯示器/Display:24寸顯示屏

數據存儲

250GB

輻射防護標準

符合GB18871-2002 GBZ115-2002標準

*技術規格會隨時更改,恕不通知。所有產品名稱為產品擁有者的商標或注冊商標

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